基于高光谱成像技术生长发育后期苹果糖度的无损检测

编号 zgly0001533204

文献类型 期刊论文

文献题名 基于高光谱成像技术生长发育后期苹果糖度的无损检测

作者 孟田源  王转卫  迟茜  赵凡  翁小凤 

作者单位 西北农林科技大学机械与电子工程学院 

母体文献 西北农林科技大学学报(自然科学版 

年卷期 2016年06期

年份 2016 

分类号 S661.1 

关键词 高光谱成像技术  苹果糖度  无损检测 

文摘内容 【目的】研究应用高光谱成像技术无损检测生长发育后期苹果糖度的可行性。【方法】以生长发育后期的富士苹果为对象,基于采集到的波长900~1 700nm高光谱数据,建立预测苹果糖度的偏最小二乘(PLS)、支持向量机(SVM)和极限学习机(ELM)模型,并比较主成分分析(PCA)和连续投影算法(SPA)2种数据压缩或特征波提取方法对预测模型精度的影响。【结果】采用PCA方法可将全光谱压缩至9个主成分,采用SPA从全光谱的230个波长中提取出了13个特征波长,两者相比,SPA能更有效地提高模型预测能力。预测生长发育后期苹果糖度的最佳模型为基于SPA的PLS模型,其预测集相关系数为0.945,均方根误差为0.628°Brix。【结论】高光谱图像技术可以用于生长发育后期苹果糖度的无损检测,该技术的应用将有助于指导苹果的种植和适时采收。