普通型与矮生型梨叶片显微结构比较

编号 zgly0000708845

文献类型 期刊论文

文献题名 普通型与矮生型梨叶片显微结构比较

作者 葛红娟  梁美霞  戴洪义 

作者单位 青岛农业大学园林园艺学院 

母体文献 西北植物学报 

年卷期 2010(8)

页码 1584-1588

年份 2010 

分类号 Q944.56 

关键词 梨  普通型  矮生型  电镜扫描  石蜡切片 

文摘内容 应用扫描电镜和石蜡切片方法,对普通型和矮生型梨叶片的显微结构进行比较分析.结果表明: 普通型和矮生型梨的叶片上表皮均有大量蜡质分布,气孔均分布在叶片下表皮,而矮生型蜡质层更厚.普通型和矮生型梨气孔器平均长轴×短轴分别为25.42μm×19.39μm和29.52μm×16.85μm,气孔平均长×宽分别为17.73μm×5.37μm和20.59μm×4.07μm;普通型和矮生型梨的叶片厚度平均值分别为196.35和227.99μm,栅栏组织厚度平均值分别为54.93和79.13μm,栅栏组织/海绵组厚度比平均分别为0.80和1.16.可见,野生型梨的叶片表皮蜡质层更厚,气孔更狭长,开度更小,叶片厚度和栅栏组织厚度显著较大,栅海比大于1,表现出抗旱耐寒的叶片结构特征.