纳米级硅镁石微粒性能及其对纸料助留效果的研究

编号 zgly0000670209

文献类型 期刊论文

文献题名 纳米级硅镁石微粒性能及其对纸料助留效果的研究

作者 祖彬  夏新兴  胡芳  许凤  赵红 

作者单位 齐齐哈尔大学  陕西科技大学 

母体文献 中国造纸 

年卷期 2010(4)

页码 32-35

年份 2010 

分类号 TS727.2 

关键词 阳离子硅镁石微粒  正电性  研磨  助留 

文摘内容 研究了阳离子硅镁石微粒的性能和其作为助留剂的助留效果。研究发现,硅镁石微粒具有纳米级的粒径和较高的正电性,其正电性随着pH值的增加逐渐降低;随着研磨时间的延长,硅镁石微粒的粒径逐渐降低,但其正电性也随着明显降低。硅镁石阳离子微粒单独作为助留剂使用时,具有一定的助留效果,但其用量大,且抗剪切性能差。硅镁石微粒与阴离子聚丙烯酰胺(APAM)组成的双元助留体系具有良好的助留效果,其中,未研磨的硅镁石微粒/APAM组成的体系具有良好的抗剪切性能和pH值适应性。因此,未研磨的硅镁石微粒与APAM组成的助留体系是一种理想的助留体系。