二氧化硅/聚酰亚胺纳米杂化薄膜室温及低温力学性能

编号 zgly0001305181

文献类型 期刊论文

文献题名 二氧化硅/聚酰亚胺纳米杂化薄膜室温及低温力学性能

作者 李艳  付绍云  林大杰  张以河  潘勤彦 

作者单位 中国科学院理化技术研究所  中国科学院理化技术研究所 北京100080中国科学院研究生院  北京100039  北京100080  北京100080中国科学院研究生院  北京100080 

母体文献 复合材料学报 

年卷期 2005年02期

年份 2005 

分类号 TB332 

关键词 聚酰亚胺  溶胶凝胶法  力学性能 

文摘内容 利用溶胶凝胶技术制备了不同SiO2 含量的二氧化硅/聚酰亚胺(SiO2/PI)纳米杂化薄膜。采用红外光谱(IR)和扫描电镜(SEM)手段对该体系的分子结构和断裂形貌进行了表征, 研究了聚酰亚胺薄膜室温和低温(77K)力学性能。结果表明: 室温和低温(77 K)下, SiO2/PI杂化薄膜的拉伸强度开始时均随SiO2 含量的增加而增加, 在含量为3%时达到最大值, 低温下杂化薄膜的拉伸强度明显高于室温。室温下, 杂化薄膜的断裂伸长率在含量为3%时达到最大值, 而低温(77 K)下, 薄膜的断裂伸长率的变化没有呈现明显的规律性。