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浅谈数字仪器抗静电干扰的重要性及控制措施



编号 zgly0000644740

文献类型 期刊论文

文献题名 浅谈数字仪器抗静电干扰的重要性及控制措施

作者 吴白丁 

作者单位 浙江省计量科学研究院 

母体文献 上海计量测试 

年卷期 2010(1)

页码 36-37,40

年份 2010 

分类号 TP216  TS734 

关键词 静电干扰  数字仪器  控制  电子组件  制造技术  取样电路  仪器使用  大体积 

文摘内容 0引言
早期常用各类电子组件体积大且频宽窄,因此静电对这些大体积的组件来说,几乎不造成什么影响。随着IC制造技术的不断进步和μm(微米)时代的到来,常用电子组件的尺寸大大缩小,已可以完全缩放到一个小小的芯片里面。在这种情况下,静电对现代数字仪器使用的如此小且频宽很宽的前端取样电路而言,

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