电路宽度制导的布尔推理

编号 zgly0000354837

文献类型 期刊论文

文献题名 电路宽度制导的布尔推理

作者 李光辉  邵明  李晓维 

作者单位 浙江林学院信息工程学院  中国科学院计算技术研究所信息网络研究室  中国科学院研究生院 

母体文献 计算机辅助设计与图形学学报 

年卷期 2004,16(11)

页码 1568-1574

年份 2004 

分类号 TP391.76 

关键词 电路宽度  布尔推理  二叉判决图  布尔可满足性  测试产生 

文摘内容 在基于逻辑电路的布尔推理过程中, 经常用到二又判决图(BDD)与布尔可满足性(SAT)相结合的算法.由于电路宽度能很好地反映电路的复杂性, 提出了一种基于电路宽度的启发式策略, 根据电路宽度来实现SAT算法与BDD算法的交替.充分发挥两者的优势, 不仅可以防止因构造BDD可能导致的内存爆炸, 而且还能避免SAT算法可能遇到的超时现象.与以往同类策略相比, 该启发式策略更节省计算资源, 提高算法性能.针对组合电路的测试产生实验, 证实了其在布尔推理中的效率.。