湿热环境对PbS光导探测器可靠性影响

编号 zgly0000938193

文献类型 期刊论文

文献题名 湿热环境对PbS光导探测器可靠性影响

作者 陈凤金  司俊杰  施正风 

作者单位 中国空空导弹研究院  红外探测器技术航空科技重点实验室 

母体文献 红外技术 

年卷期 2015(6)

页码 510-513

年份 2015 

关键词 湿热环境  暗电阻  PbS  光导探测器  性能可靠性  表面吸附 

文摘内容 叙述了PbS薄膜的化学水浴制备方法及PbS薄膜形貌、性能测试及湿热环境(相对湿度95%)试验的过程,阐述了PbS探测器芯片经湿热环境试验后暗阻等性能参数的变化情况,分析了其原因和相关机理。短时间(1 h)内湿热环境下,其性能参数变化在5%以内,在持续24 h的潮湿环境后,PbS的暗阻增大50%以上。在之后的2×24 h、3×24 h、4×24 h、5×24 h湿热环境下,暗阻值增量随时间递增呈正比例关系。当潮湿试验进行到7×24 h后,部分试验样件无法测试出响应信号,样件失效。