利用电解质渗出率方法测定梨的耐寒性

编号 zgly0001080919

文献类型 期刊论文

文献题名 利用电解质渗出率方法测定梨的耐寒性

作者 孙秉钧  黄礼森  李树玲  蒲富慎 

作者单位 中国农业科学院果树研究所  中国农业科学院果树研究所 

母体文献 中国果树 

年卷期 1987年01期

年份 1987 

关键词 梨  抗寒性  电导法  电解质渗出率  致死临界温度 

文摘内容 本试验采用以生物膜学说为依据的电导法,测定经连续梯度降温处理的和蒸汽杀死后的梨一年生枝条电导率,换算成电解质渗出百分率,从所得数值找出质膜透性的变化规律,以寻求检测梨树耐寒性的方法。为验证其准确性,将各处理材料分出部分进行插枝水培,以观察其发芽情况和内部变化。观察结果与测得的生理指标相一致,从而表明应用电解质渗出率的计量单位测定梨的耐寒性,是一个简易可靠的方法。