拟南芥xtc1突变体的图位克隆分析

编号 zgly0000831521

文献类型 期刊论文

文献题名 拟南芥xtc1突变体的图位克隆分析

作者 蒋琦  王倩 

作者单位 西北农林科技大学生命科学学院  西北农林科技大学 

母体文献 西北农林科技大学学报: 自然科学版 

年卷期 2014(4)

页码 201-206

年份 2014 

分类号 Q78 

关键词 表皮蜡  FATB  图位克隆  拟南芥 

文摘内容 【目的】:分析拟南芥xtc1突变体茎部表皮蜡的组分和含量, 并鉴定导致xtc1突变体表型的基因。【方法】:通过气相色谱法分析拟南芥xtc1突变体与Ler野生型茎部表皮蜡的成分; 利用图位克隆确定突变基因位点, 通过在拟南芥xtc1突变体中过量表达FATB基因, 验证突变位点与FATB基因的关系。【结果】:拟南芥xtc1突变体茎部表皮蜡总量约为Ler野生型的1/3, 且各组分含量均明显减少; 将突变基因定位在第1染色体顶端物理距离为80 kb的2个标记T27G7-3和F22O13-1之间, 该区域含有21个基因。T-DNA插入突变体观察及测序分析表明, xtc1突变体在At1g08510(FATB)基因的第1个外显子上产生14个碱基的缺失, 导致翻译提前终止; 在xtc1突变体中过量表达FATB基因可恢复xtc1突变体的正常表型。【结论】:拟南芥xtc1突变体茎部表皮蜡含量减少, 且突变基因为FATB基因。