介质pH及离子强度对纳米SiO2颗粒分散度的影响机制初探

编号 zgly0001533125

文献类型 期刊论文

文献题名 介质pH及离子强度对纳米SiO2颗粒分散度的影响机制初探

作者 秦睿  郑立飞  王力  李忠宏  李荣华  张增强  杨亚提 

作者单位 西北农林科技大学资源环境学院  西北农林科技大学理学院  西北农林科技大学食品科学与工程学院 

母体文献 西北农林科技大学学报(自然科学版 

年卷期 2016年03期

年份 2016 

分类号 X132 

关键词 离子强度  纳米SiO2颗粒  分散度  双电层结构 

文摘内容 【目的】分析介质pH及离子强度对纳米SiO2（nSiO2）颗粒分散度的影响。【方法】采用分散试验分析了不同介质pH和NaNO3浓度对10nm nSiO2颗粒分散度的影响,并通过多组分表面电荷调控模型理论及泊松-玻尔兹曼方程对影响机制进行了初步探讨。【结果】nSiO2颗粒分散度随着NaNO3浓度的增加而降低,但随着介质pH的升高而增加,并在pH 7.39以后逐渐趋于稳定;随着介质pH的增大,nSiO2颗粒的表面电荷密度（σ）增加,但增加介质的离子强度及nSiO2颗粒的粒径会逐渐降低σ。nSiO2颗粒粒径的变化会导致其表面H+的分布发生改变,从而引起σ的变化。双电层结构的拟合结果表明,当双电层结构厚度与粒径比值（λD/Dp）<0.2时,nSiO2颗粒的σ主要受控于粒径大小,可忽略离子强度和pH的影响;当λD/Dp>0.2时,nSiO2颗粒的σ不仅受控于粒径大小,还与介质的离子强度和pH密切相关。【结论】nSiO2颗粒的σ与粒径大小、介质的pH和离子强度密切相关。